Optoscope WLI

Messung von Dicke / Schichtdicke

Weißlicht-Interferometer Optoscope WLI für Dicke / Schichtdicke

Interferenzmessung für dünne Schichten und Beschichtungen

Qualiscan QMS-12 Traversierendes Qualitätskontrolsystem

pdf 5 MB

Ansprechpartner

Herr Matthias Wulbeck

+49 9441 601 123
matthias.wulbeck@mahlo.com

Landeskontakt

Afghanistan
Ägypten
Ålandinseln
Albanien
Algerien
Amerikanisch-Ozeanien
Amerikanisch-Samoa
Amerikanische Jungferninseln
Andorra
Angola
Anguilla
Antarktis
Antigua und Barbuda
Äquatorialguinea
Argentinien
Armenien
Aruba
Aserbaidschan
Äthiopien
Australien
Bahamas
Bahrain
Bangladesch
Barbados
Belgien
Belize
Benin
Bermuda
Bhutan
Bolivien
Bonaire, Sint Eustatius und Saba
Bosnien und Herzegowina
Botsuana
Bouvetinsel
Brasilien
Britische Jungferninseln
Britisches Territorium im Indischen Ozean
Brunei Darussalam
Bulgarien
Burkina Faso
Burundi
Chile
China
Cookinseln
Costa Rica
Curaçao
Dänemark
Demokratische Republik Kongo
Demokratische Volksrepublik Korea
Deutschland
Dominica
Dominikanische Republik
Dschibuti
Ecuador
El Salvador
Elfenbeinküste
Eritrea
Estland
Falklandinseln
Färöer
Fidschi
Finnland
Frankreich
Französisch-Guayana
Französisch-Polynesien
Französische Süd- und Antarktisgebiete
Gabun
Gambia
Georgien
Ghana
Gibraltar
Grenada
Griechenland
Grönland
Großbritannien
Guadeloupe
Guam
Guatemala
Guernsey
Guinea
Guinea-Bissau
Guyana
Haiti
Heard und McDonaldinseln
Honduras
Hong Kong S.A.R., China
Indien
Indonesien
Insel Man
Irak
Iran
Irland
Island
Israel
Italien
Jamaika
Japan
Jemen
Jersey
Jordanien
Kaimaninseln
Kambodscha
Kamerun
Kanada
Kap Verde
Kasachstan
Katar
Kenia
Kirgisistan
Kiribati
Kokosinseln (Keeling)
Kolumbien
Komoren
Kongo
Kosovo
Kroatien
Kuba
Kuwait
Laos
Lesotho
Lettland
Libanon
Liberia
Libyen
Liechtenstein
Litauen
Luxemburg
Macau S.A.R., China
Madagaskar
Malawi
Malaysia
Malediven
Mali
Malta
Marokko
Marschallinseln
Martinique
Mauretanien
Mauritius
Mayotte
Mexiko
Mikronesien
Monaco
Mongolei
Montenegro
Montserrat
Mosambik
Myanmar
Namibia
Nauru
Nepal
Neukaledonien
Neuseeland
Nicaragua
Niederlande
Niederländische Antillen
Niger
Nigeria
Niue
Nördliche Marianen
Nordmazedonien
Norfolkinsel
Norwegen
Oman
Österreich
Osttimor
Pakistan
Palästina
Palau
Panama
Papua-Neuguinea
Paraguay
Peru
Philippinen
Pitcairn
Polen
Portugal
Puerto Rico
Republik Korea
Republik Moldau
Reunion
Ruanda
Rumänien
Russische Föderation
Saint-Barthélemy
Saint-Martin
Salomonen
Sambia
Samoa
San Marino
São Tomé und Príncipe
Saudi-Arabien
Schweden
Schweiz
Senegal
Serbien
Serbien und Montenegro
Seychellen
Sierra Leone
Simbabwe
Singapur
Sint Maarten
Slowakei
Slowenien
Somalia
Spanien
Sri Lanka
St. Helena
St. Kitts und Nevis
St. Lucia
St. Pierre und Miquelon
St. Vinzent und die Grenadinen
Südafrika
Sudan
Südgeorgien und die Südlichen Sandwichinseln
Südsudan
Suriname
Svalbard und Jan Mayen
Swasiland
Syrien
Tadschikistan
Taiwan
Tansania
Thailand
Togo
Tokelau
Tonga
Trinidad und Tobago
Tschad
Tschechische Republik
Tunesien
Türkei
Turkmenistan
Turks- und Caicosinseln
Tuvalu
Uganda
Ukraine
Ungarn
Uruguay
Usbekistan
Vanuatu
Vatikanstadt
Venezuela
Vereinigte Arabische Emirate
Vereinigte Staaten von Amerika
Vietnam
Wallis und Futuna
Weihnachtsinsel
Weißrussland
Westsahara
Zentralafrikanische Republik
Zypern

Weißlichtinterferenz

Weißes Licht wird von den oberen und unteren Grenzflächen dünner Schichten unterschiedlich zurückgeworfen. Mit der Interferenzmessung können transparente Beschichtungen auf Folien und Monofolien präzise gemessen werden. Durch ein spezielles Messverfahren kann sowohl die Schichtdicke als auch die Foliendicke online ermittelt werden.

Produkt Highlights

Einfache und schnelle Messmethode
Misst Dicke der Auftragsschicht und Foliendicke
Hohe Messgenauigkeit und Langlebigkeit

Kundennutzen

Schnelle Prozessoptimierung
Materialeinsparungen
Qualitätssicherung

Wird weißes Licht von dünnen Schichten zurückgeworfen, so erscheint diese Reflexion farbig wie ein Regenbogen. Diesen Effekt kann man beispielsweise bei einem dünnen Ölfilm auf einer Wasserpfütze beobachten. Das Licht wird sowohl an der oberen als auch an der unteren Grenzfläche teilweise reflektiert. Die überlagerten Reflexionen interferieren. Die Interferenz hängt mit der Schichtdicke zusammen und kann von einem Spektrometer erfasst werden.